我們常看到的(de)一些3C產品，里(li)面(mian)都有(you)安(an)裝鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)，鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)具(ju)有(you)高(gao)能量密度、高(gao)電(dian)(dian)壓(ya)、壽命長、無記(ji)憶效應等(deng)優點(dian)，是21世紀發展的(de)理想電(dian)(dian)源(yuan)。鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)可廣泛應用于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)(dian)腦、可穿戴設備等(deng)領域(yu)3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)容(rong)易因(yin)短(duan)路、過充(chong)等(deng)原因(yin)燒毀或爆炸，所以很危(wei)險(xian)3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試是鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)制造和組裝的(de)重要環節，是實現鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)性能和安(an)全靠(kao)譜使用的(de)有(you)力保障，3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試項(xiang)目(mu)主要包括(kuo)一致(zhi)性、功能性、安(an)全性、靠(kao)譜性和工況模(mo)擬。

　　3C鋰電池(chi)測(ce)(ce)試對(dui)電池(chi)測(ce)(ce)試模(mo)塊的選(xuan)擇(ze)很重(zhong)要。目(mu)前市場(chang)上廣泛使用的電池(chi)測(ce)(ce)試模(mo)塊有兩種，一種是凱智(zhi)通大電流彈片微針模(mo)塊，另一種是pogo pin探針模(mo)塊。通過比較兩者的優缺點(dian)，我們可(ke)以(yi)更(geng)直觀地(di)區分哪一個更(geng)符合(he)要求3C鋰電池(chi)測(ce)(ce)試要求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓三級:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對小間距(ju)還是大(da)(da)電(dian)流(liu)，大(da)(da)電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模(mo)塊都有很(hen)好(hao)的應(ying)對方法。pitch在(zai)該(gai)領域，大(da)(da)電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模(mo)塊是可取的pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能(neng)穩(wen)定靠譜。面對大(da)(da)電(dian)流(liu)測試要求，大(da)(da)電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模(mo)塊可通(tong)過的額定電(dian)流(liu)大(da)(da)到50A，在(zai)1-50A電(dian)阻恒定，幾乎沒有電(dian)流(liu)衰減，具有良好(hao)的連接功能(neng)，可以很(hen)大(da)(da)限度地保障(zhang)3C鋰(li)電(dian)池測試的穩(wen)定性。

　　就使用壽(shou)(shou)命(ming)而言，pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)的試(shi)驗壽(shou)(shou)命(ming)在于5w大電(dian)流(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)的試(shi)驗壽(shou)(shou)命(ming)約(yue)為(wei)20w以上，比(bi)較pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)整整多(duo)了四(si)倍！pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)為(wei)多(duo)組件結構，生產(chan)工(gong)藝復雜，生產(chan)難度(du)高，交貨周期(qi)長(chang)；大型電(dian)流(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)為(wei)一體(ti)化(hua)彈片(pian)(pian)結構，輕、扁平，可(ke)根據客戶要(yao)求(qiu)定制(zhi)，生產(chan)難度(du)低，交貨周期(qi)短(duan)。相比(bi)之(zhi)下(xia)，大型電(dian)流(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)的成本(ben)性能并不太高！

　　對(dui)比母座測(ce)試(shi)良率(lv)，pogopin探(tan)針模組針對(dui)BTB連(lian)接(jie)器(qi)母座幾乎無(wu)法實現，穩定性極(ji)差。大部分采(cai)用(yong)觸(chu)摸方案對(dui)應，母座測(ce)試(shi)良率(lv)不到80%；母座上有一(yi)種特別的(de)(de)大電流彈(dan)片微針模塊對(dui)應方法。將斜口型（也稱尖頭型）彈(dan)片頭插入連(lian)接(jie)器(qi)內端子(zi)，以保持一(yi)定的(de)(de)開度，從而保障彈(dan)片的(de)(de)接(jie)觸(chu)面(mian)(mian)和接(jie)觸(chu)面(mian)(mian)BTB連(lian)接(jie)器(qi)端子(zi)兩側保持接(jie)觸(chu)狀態(tai)，使測(ce)試(shi)穩定，母座測(ce)試(shi)良率(lv)高達99.8%。

　
　大電流(liu)彈片微針模塊測(ce)試效率高，穩定(ding)性好。與(yu)同一產品測(ce)試前(qian)后相比，連接器基本上看不(bu)到刺痕，不(bu)會對產品造成任何損壞(huai)pogopin探(tan)針電池測(ce)試模塊更值得選擇和(he)信賴。