21世(shi)紀發展的理想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可廣泛應用(yong)于 3C 也被稱(cheng)為(wei)手機、平板電(dian)(dian)(dian)腦、筆(bi)記(ji)本電(dian)(dian)(dian)腦、可穿戴設備(bei)等(deng)領域，鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有(you)能量密度高、電(dian)(dian)(dian)壓(ya)高、壽命長、無(wu)記(ji)憶效應等(deng)優點，3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)是(shi)容易因(yin)短路(lu)、過(guo)充(chong)等(deng)原(yuan)因(yin)燒毀(hui)或爆炸，所以很危險3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試是(shi)鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制(zhi)造和(he)組裝的重要環節(jie)，是(shi)實現鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性能和(he)安全靠譜使用(yong)的有(you)力保障。3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試項(xiang)目(mu)主要包括一致(zhi)性、功能性、安全性、可靠性和(he)工(gong)況(kuang)模擬(ni)。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓三級:pogopin探針模塊。通過比較(jiao)兩者的優缺點(dian)，我們可以更直觀地區分哪(na)一個更符(fu)合要(yao)求3C鋰電(dian)池測(ce)試要(yao)求。

　　從目前的(de)(de)市場趨勢來看，3C電(dian)(dian)子產品(pin)內部空間(jian)集(ji)成度高，pitch不斷縮(suo)小，pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模組(zu)在(zai)小pitch該(gai)領域適應性(xing)差，只能處理0.3mm-0.4mm之間(jian)的(de)(de)pitch壽命和穩定(ding)性(xing)差。3C鋰電(dian)(dian)池測試對(dui)電(dian)(dian)流的(de)(de)需求很大，pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模塊(kuai)能承載的(de)(de)額(e)定(ding)電(dian)(dian)流僅(jin)為1A，在(zai)傳輸過程(cheng)中，電(dian)(dian)流會(hui)在(zai)不同位衰減，導致連接不穩定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大電(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)微(wei)(wei)針模(mo)組無論(lun)是(shi)面(mian)對(dui)(dui)小(xiao)間距還是(shi)大電(dian)流(liu)(liu)，都(dou)有(you)很(hen)好(hao)的應對(dui)(dui)方法。在(zai)小(xiao)pitch在(zai)該領域，大電(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)微(wei)(wei)針模(mo)塊(kuai)是(shi)可取的pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能穩定(ding)可靠。面(mian)對(dui)(dui)大電(dian)流(liu)(liu)測試要求(qiu)，大電(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)微(wei)(wei)針模(mo)塊(kuai)可通(tong)過的額定(ding)電(dian)流(liu)(liu)大到(dao)50A，在(zai)1-50A電(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有(you)電(dian)流(liu)(liu)衰減，具(ju)有(you)良好(hao)的連接功能，可以很(hen)大限度地(di)保障3C鋰電(dian)池測試的穩定(ding)性。

　　pogopin探針模組

　　就使用壽命而言，pogopin探針(zhen)模塊的試(shi)驗壽命在(zai)于5w大電(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)的試(shi)驗壽命約為20w以上(shang)，比(bi)較pogopin探針(zhen)模塊整(zheng)整(zheng)多了(le)四倍!況且pogo pin探針(zhen)模塊為多組(zu)件(jian)結構(gou)，生產工(gong)藝復雜(za)，生產難(nan)度高，交貨期長;大電(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)是一種集成彈片(pian)結構(gou)，輕、扁平，可根據客戶要求定制，生產難(nan)度低(di)，交貨期短。相(xiang)比(bi)之下(xia)，通大電(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)的成本性(xing)能并不太高!

　　對比母(mu)座測試良率(lv)(lv)，pogopin針(zhen)對探(tan)針(zhen)模塊BTB連(lian)接(jie)器母(mu)座幾乎無(wu)法實(shi)現，穩定(ding)性極差。大部(bu)分采用觸摸方案對應(ying)，母(mu)座測試良率(lv)(lv)不到80%;母(mu)座上有一(yi)種(zhong)特(te)別的通(tong)大電(dian)流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模組對應(ying)方法。將斜口型(也稱尖頭型)彈片(pian)頭插入連(lian)接(jie)器內(nei)端子(zi)(zi)，以保持一(yi)定(ding)的開度，從而保障(zhang)彈片(pian)的接(jie)觸面和接(jie)觸面BTB連(lian)接(jie)器端子(zi)(zi)兩側保持接(jie)觸狀態，使測試穩定(ding)，母(mu)座測試良率(lv)(lv)達到99.8%。

　　大電(dian)流(liu)彈片微針模(mo)組測試(shi)(shi)效(xiao)率高，穩定性好(hao)。與同一產品測試(shi)(shi)前后相比，連接器基本上(shang)看不到(dao)刺痕，不會(hui)對產品造成任何(he)損壞pogo pin電(dian)池測試(shi)(shi)模(mo)塊(kuai)更值得選擇和信賴。