21世紀發展的理想電(dian)(dian)(dian)源(yuan)。鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)可廣泛應用于 3C 也被(bei)稱為手(shou)機、平板(ban)電(dian)(dian)(dian)腦(nao)(nao)、筆記本電(dian)(dian)(dian)腦(nao)(nao)、可穿戴設備等(deng)領域，鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)具有能(neng)量密度高、電(dian)(dian)(dian)壓(ya)高、壽命長、無(wu)記憶效應等(deng)優點，3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)是容易因短路、過充(chong)等(deng)原因燒毀或爆炸，所(suo)以(yi)很危險3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)測試(shi)是鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)制造和組裝的重(zhong)要環節，是實現鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)性(xing)(xing)能(neng)和安(an)全靠譜使(shi)用的有力保障。3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)測試(shi)項目主要包括一(yi)致性(xing)(xing)、功能(neng)性(xing)(xing)、安(an)全性(xing)(xing)、可靠性(xing)(xing)和工(gong)況(kuang)模(mo)擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓三級:pogopin探針模塊。通過比(bi)較兩者的(de)優(you)缺點(dian)，我(wo)們可以更直(zhi)觀地區(qu)分哪一(yi)個更符合(he)要求3C鋰(li)電池測試要求。

　　從(cong)目(mu)前的市場趨勢來看，3C電(dian)(dian)(dian)子產品內部空間(jian)集(ji)成度高，pitch不斷(duan)縮小，pogopin探(tan)針(zhen)模組在小pitch該(gai)領域適應性差，只能(neng)(neng)處理0.3mm-0.4mm之間(jian)的pitch壽(shou)命和(he)穩定性差。3C鋰電(dian)(dian)(dian)池測試對(dui)電(dian)(dian)(dian)流的需求很大(da)，pogopin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)能(neng)(neng)承(cheng)載的額定電(dian)(dian)(dian)流僅為1A，在傳輸過程中，電(dian)(dian)(dian)流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模組無(wu)論是面(mian)對小間距還(huan)是大(da)電(dian)(dian)流(liu)，都有很(hen)好(hao)(hao)的(de)應對方法。在(zai)(zai)(zai)小pitch在(zai)(zai)(zai)該領(ling)域，大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模塊(kuai)是可取的(de)pitch值在(zai)(zai)(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能(neng)穩(wen)定可靠。面(mian)對大(da)電(dian)(dian)流(liu)測(ce)試(shi)要(yao)求，大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模塊(kuai)可通(tong)過的(de)額(e)定電(dian)(dian)流(liu)大(da)到(dao)50A，在(zai)(zai)(zai)1-50A電(dian)(dian)阻恒定，幾乎沒有電(dian)(dian)流(liu)衰(shuai)減，具有良(liang)好(hao)(hao)的(de)連(lian)接功能(neng)，可以很(hen)大(da)限度(du)地(di)保障3C鋰電(dian)(dian)池測(ce)試(shi)的(de)穩(wen)定性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就(jiu)使(shi)用壽命(ming)而(er)言，pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模(mo)塊的試驗(yan)壽命(ming)在于(yu)5w大(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)組的試驗(yan)壽命(ming)約(yue)為20w以上，比較(jiao)pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模(mo)塊整(zheng)(zheng)整(zheng)(zheng)多了(le)四倍(bei)!況且pogo pin探(tan)針(zhen)(zhen)模(mo)塊為多組件結構(gou)，生產工藝復雜，生產難(nan)度高(gao)(gao)，交(jiao)貨期(qi)(qi)長;大(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)組是一種集成(cheng)彈片(pian)結構(gou)，輕、扁平，可根據(ju)客戶要求定制，生產難(nan)度低，交(jiao)貨期(qi)(qi)短(duan)。相比之下，通大(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)組的成(cheng)本性能并不太高(gao)(gao)!

　　對(dui)比(bi)母座測試(shi)良率，pogopin針對(dui)探針模塊BTB連(lian)接器(qi)母座幾(ji)乎無法實(shi)現，穩定(ding)性極差(cha)。大部分(fen)采用觸(chu)摸(mo)方(fang)案(an)對(dui)應，母座測試(shi)良率不到80%;母座上有一種(zhong)特別的通(tong)大電流彈片微針模組對(dui)應方(fang)法。將(jiang)斜口型(xing)(也稱尖頭型(xing))彈片頭插入連(lian)接器(qi)內端子，以保(bao)持一定(ding)的開度，從(cong)而保(bao)障彈片的接觸(chu)面(mian)(mian)和接觸(chu)面(mian)(mian)BTB連(lian)接器(qi)端子兩側保(bao)持接觸(chu)狀(zhuang)態，使測試(shi)穩定(ding)，母座測試(shi)良率達到99.8%。

　　大電流彈片(pian)微針模(mo)(mo)組測(ce)試效率高，穩(wen)定性好。與同一產(chan)品(pin)測(ce)試前后相比，連接器基本上看不到刺痕，不會對產(chan)品(pin)造成(cheng)任何損壞(huai)pogo pin電池測(ce)試模(mo)(mo)塊更值得(de)選擇和信賴。