我們常看到的(de)一(yi)些(xie)3C產(chan)品，里面都有(you)(you)安裝鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)，鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有(you)(you)高(gao)能(neng)量密度、高(gao)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓、壽命(ming)長(chang)、無記(ji)憶效應(ying)等優點，是21世紀發展的(de)理(li)想電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可(ke)廣泛應(ying)用于 3C 也被稱(cheng)為(wei)手機、平板電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)腦、可(ke)穿(chuan)戴設備(bei)等領域3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)容易因短路、過充等原因燒毀或爆炸，所以(yi)很危(wei)險3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試是鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制造和組裝的(de)重要環節，是實現(xian)鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)(xing)(xing)能(neng)和安全靠(kao)譜使用的(de)有(you)(you)力保障，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試項(xiang)目主要包括一(yi)致性(xing)(xing)(xing)、功能(neng)性(xing)(xing)(xing)、安全性(xing)(xing)(xing)、靠(kao)譜性(xing)(xing)(xing)和工況模擬。

　　3C鋰(li)電(dian)池測(ce)(ce)試對電(dian)池測(ce)(ce)試模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的選擇很(hen)重要(yao)。目前市場上(shang)廣泛使(shi)用的電(dian)池測(ce)(ce)試模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)有兩種(zhong)，一種(zhong)是(shi)凱智通(tong)大電(dian)流彈片微針模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)，另一種(zhong)是(shi)pogo pin探針模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)。通(tong)過比較兩者的優缺點，我們可以更直觀(guan)地(di)區分哪一個(ge)更符合(he)要(yao)求3C鋰(li)電(dian)池測(ce)(ce)試要(yao)求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓三級:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面(mian)對小間距還是大(da)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)，大(da)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)模塊(kuai)都(dou)有很好的(de)應對方法。pitch在該領域，大(da)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)模塊(kuai)是可(ke)(ke)取(qu)的(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩定靠譜。面(mian)對大(da)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)測試(shi)要求，大(da)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)模塊(kuai)可(ke)(ke)通過(guo)的(de)額定電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)大(da)到(dao)50A，在1-50A電(dian)阻恒定，幾(ji)乎沒(mei)有電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)衰減(jian)，具有良好的(de)連接功能，可(ke)(ke)以(yi)很大(da)限度(du)地保障3C鋰(li)電(dian)池測試(shi)的(de)穩定性。

　　就使用壽(shou)命(ming)(ming)而言，pogopin探針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)試(shi)驗壽(shou)命(ming)(ming)在于5w大電流彈(dan)片微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)試(shi)驗壽(shou)命(ming)(ming)約為(wei)(wei)(wei)20w以上，比較(jiao)pogopin探針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)整整多了四倍！pogopin探針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)為(wei)(wei)(wei)多組件結(jie)構(gou)，生產(chan)工藝復雜，生產(chan)難度高，交貨周期長(chang)；大型電流彈(dan)片微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)為(wei)(wei)(wei)一體(ti)化彈(dan)片結(jie)構(gou)，輕(qing)、扁平，可(ke)根據客戶要(yao)求定(ding)制，生產(chan)難度低，交貨周期短。相比之下，大型電流彈(dan)片微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)成本性能并不太高！

　　對比(bi)母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率，pogopin探針模(mo)組針對BTB連接(jie)器(qi)母(mu)座(zuo)(zuo)幾乎無法實現(xian)，穩定(ding)性極差。大(da)部分(fen)采用觸摸方(fang)案對應，母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率不到80%；母(mu)座(zuo)(zuo)上有一(yi)種(zhong)特別的(de)大(da)電流彈片(pian)微針模(mo)塊對應方(fang)法。將斜(xie)口型（也稱尖(jian)頭型）彈片(pian)頭插入連接(jie)器(qi)內(nei)端子，以保(bao)持(chi)一(yi)定(ding)的(de)開度(du)，從而保(bao)障彈片(pian)的(de)接(jie)觸面和接(jie)觸面BTB連接(jie)器(qi)端子兩側(ce)保(bao)持(chi)接(jie)觸狀態，使測(ce)試(shi)穩定(ding)，母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率高(gao)達(da)99.8%。

　
　大(da)電(dian)流彈片微針模塊測(ce)試(shi)效(xiao)率高，穩定性好。與同(tong)一產品(pin)測(ce)試(shi)前后相(xiang)比，連接(jie)器(qi)基本上(shang)看不到刺痕，不會對產品(pin)造成(cheng)任(ren)何(he)損壞pogopin探針電(dian)池測(ce)試(shi)模塊更值(zhi)得選(xuan)擇和信(xin)賴(lai)。