我們常(chang)看到(dao)的一些3C產品，里(li)面都(dou)有(you)安(an)裝鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)，鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)具有(you)高(gao)能(neng)量(liang)密(mi)度(du)、高(gao)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)、壽命長、無(wu)記(ji)憶效應(ying)等優點，是21世紀發(fa)展的理想電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)。鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)可(ke)廣泛應(ying)用于(yu) 3C 也被稱為手(shou)機、平(ping)板(ban)電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、可(ke)穿戴(dai)設備等領域3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)容(rong)易因短路(lu)、過(guo)充等原因燒毀或爆炸，所(suo)以很(hen)危險3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測試(shi)是鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)制造和(he)組裝的重要環節，是實現鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)性(xing)(xing)(xing)能(neng)和(he)安(an)全(quan)靠譜使用的有(you)力保障，3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測試(shi)項目(mu)主要包括(kuo)一致性(xing)(xing)(xing)、功(gong)能(neng)性(xing)(xing)(xing)、安(an)全(quan)性(xing)(xing)(xing)、靠譜性(xing)(xing)(xing)和(he)工況模擬(ni)。

　　3C鋰電(dian)池(chi)測試對電(dian)池(chi)測試模塊(kuai)(kuai)的(de)(de)選擇(ze)很(hen)重要(yao)。目前市場上廣泛(fan)使用的(de)(de)電(dian)池(chi)測試模塊(kuai)(kuai)有兩種(zhong)，一(yi)種(zhong)是凱智通大電(dian)流彈(dan)片微針(zhen)模塊(kuai)(kuai)，另一(yi)種(zhong)是pogo pin探針(zhen)模塊(kuai)(kuai)。通過比較兩者的(de)(de)優缺(que)點，我們可以更直觀地區(qu)分哪(na)一(yi)個更符合要(yao)求(qiu)3C鋰電(dian)池(chi)測試要(yao)求(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓三級:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對(dui)(dui)小(xiao)間距還是大電(dian)流(liu)，大電(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微針模(mo)塊(kuai)都有很(hen)好(hao)的(de)應對(dui)(dui)方法。pitch在該領(ling)域，大電(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微針模(mo)塊(kuai)是可取的(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定靠譜(pu)。面對(dui)(dui)大電(dian)流(liu)測試要求，大電(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微針模(mo)塊(kuai)可通過的(de)額(e)定電(dian)流(liu)大到50A，在1-50A電(dian)阻恒定，幾(ji)乎沒有電(dian)流(liu)衰減，具有良好(hao)的(de)連接功能，可以(yi)很(hen)大限度地(di)保障3C鋰電(dian)池測試的(de)穩定性(xing)。

　　就使用壽命而言，pogopin探(tan)針模(mo)塊的(de)試驗壽命在(zai)于5w大電(dian)流(liu)彈片(pian)微針模(mo)塊的(de)試驗壽命約為20w以上，比(bi)較pogopin探(tan)針模(mo)塊整(zheng)整(zheng)多了四倍！pogopin探(tan)針模(mo)塊為多組件結(jie)(jie)構(gou)(gou)，生(sheng)產(chan)工藝復雜，生(sheng)產(chan)難度(du)(du)高，交貨(huo)周期長；大型(xing)電(dian)流(liu)彈片(pian)微針模(mo)塊為一(yi)體化彈片(pian)結(jie)(jie)構(gou)(gou)，輕、扁平，可根據客戶要求定(ding)制，生(sheng)產(chan)難度(du)(du)低，交貨(huo)周期短。相比(bi)之下，大型(xing)電(dian)流(liu)彈片(pian)微針模(mo)塊的(de)成本性能(neng)并不(bu)太(tai)高！

　　對比母座測(ce)試(shi)良(liang)(liang)率(lv)(lv)，pogopin探針(zhen)模組針(zhen)對BTB連(lian)接器母座幾乎無法實現，穩(wen)定性極(ji)差。大(da)部分采用觸(chu)(chu)(chu)摸(mo)方案對應，母座測(ce)試(shi)良(liang)(liang)率(lv)(lv)不到(dao)80%；母座上有一(yi)種特別的大(da)電流彈片(pian)微針(zhen)模塊對應方法。將斜(xie)口型（也(ye)稱尖(jian)頭型）彈片(pian)頭插入連(lian)接器內端子，以(yi)保(bao)(bao)持(chi)(chi)一(yi)定的開(kai)度，從(cong)而(er)保(bao)(bao)障彈片(pian)的接觸(chu)(chu)(chu)面和接觸(chu)(chu)(chu)面BTB連(lian)接器端子兩側保(bao)(bao)持(chi)(chi)接觸(chu)(chu)(chu)狀態，使測(ce)試(shi)穩(wen)定，母座測(ce)試(shi)良(liang)(liang)率(lv)(lv)高達(da)99.8%。

　
　大電流彈片微針模(mo)塊測(ce)試(shi)效率高，穩(wen)定(ding)性(xing)好。與同一(yi)產品測(ce)試(shi)前后相比(bi)，連(lian)接(jie)器基本(ben)上看不(bu)到刺痕，不(bu)會對產品造成任何損壞pogopin探針電池(chi)測(ce)試(shi)模(mo)塊更值(zhi)得選(xuan)擇和信賴(lai)。