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關于BTB/FPC母(mu)座connector測(ce)試,目前大(da)部份的(de)企業(ye)、廠商(shang)采用(yong)(yong)輕觸(chu)計劃降臨(lin)時應對;運用(yong)(yong)pogo pin的(de)廠商(shang)測(ce)試母(mu)座時,只能接(jie)觸(chu)連接(jie)器端子頂點位置,接(jie)觸(chu)區域面積(ji)小(xiao),接(jie)觸(chu)方式為(wei)點對點,相對彈片(pian)接(jie)觸(chu)面小(xiao),易磨損(sun)及運用(yong)(yong)次數到(dao)一定的(de)壽命后(hou)易接(jie)觸(chu)不良,招致誤(wu)測(ce)等現象。
pogopin是由(you)(you)彈(dan)簧、針管(guan)、針軸三個根本部件預壓之后構成(cheng)的彈(dan)簧式探針;它自身由(you)(you)幾個部件制造(zao)、裝配、涂裝而成(cheng),工藝程(cheng)序復雜,但運用壽(shou)命仍然不(bu)高;由(you)(you)于pogopin自身存(cun)在(zai)的一些問題,在(zai)實(shi)踐操作針對BTB母座connector測試(shi)時,我們理(li)解到一些廠商的實(shi)踐狀況(kuang):
1.測試不(bu)(bu)穩定(ding),pogopin自身(shen)是(shi)多配件構(gou)造,接觸(chu)點多,易產生接觸(chu)不(bu)(bu)穩定(ding)、阻抗分歧性低等問題(ti);
2.測試(shi)時探針(zhen)(zhen)經常(chang)性扎歪(wai),然后需(xu)求人員重新進行探針(zhen)(zhen)調整,糜費了(le)大量的時間和人工(gong)本(ben)錢;
3.卡PIN:同(tong)樣由(you)于(yu)由(you)多構造組合而成,這個在pogopin身上是防止不了(le)的問題;
4.極易斷針(zhen):隨著(zhu)pitch的減少(shao),pogo的針(zhen)徑也越來越小,使得探針(zhen)的斷針(zhen)風險(xian)逐步增(zeng)加(jia);
5.運(yun)用壽(shou)命很短:探(tan)針的運(yun)用壽(shou)命均在30000次以下,并容(rong)易磨損,運(yun)用次數到(dao)一定(ding)的壽(shou)命后易招致接觸(chu)不良、誤測等現象(xiang);
以(yi)上狀況相對(dui)呈現(xian)率較高(gao),針對(dui)以(yi)上的狀況,自然(ran)導致企業本(ben)錢的增加,測試穩(wen)定性差,良(liang)品率低等問題。
針對以上運用(yong)pogo測試BTB母座connector,下(xia)面簡單引(yin)見(jian)幾個方面:
1.彈片微針(zhen)模組有一體成型(xing),后期加硬鍍(du)金處(chu)置,接(jie)(jie)觸外形(可定(ding)制化(hua))很容(rong)易(yi)依照客戶(hu)請(qing)求制造(zao);彈片為一體化(hua)構造(zao),減少了接(jie)(jie)觸點,防止產(chan)生接(jie)(jie)觸不(bu)穩定(ding)、阻抗分歧性低等問題;
2.在(zai)測試(shi)母座時,彈片(pian)頭部(bu)插入連(lian)接(jie)(jie)器(qi)內端子,使其產生(sheng)一(yi)定(ding)的張(zhang)開量,這樣能(neng)夠保障彈片(pian)接(jie)(jie)觸(chu)面與BTB連(lian)接(jie)(jie)器(qi)端子兩面不(bu)斷(duan)堅(jian)持接(jie)(jie)觸(chu)狀態;測試(shi)公座時,鋸齒型(xing)彈片(pian)大面積充(chong)沛和連(lian)接(jie)(jie)器(qi)接(jie)(jie)觸(chu)點接(jie)(jie)觸(chu),保障測試(shi)穩(wen)定(ding);
3.電傳(chuan)播導(dao)于同(tong)一資(zi)料體內,電阻恒定(ding),簡直(zhi)沒有電流衰(shuai)減,具有更好的銜接(jie)功用(yong),額定(ding)電流為3A;
4.由(you)于(yu)一體成型,完(wan)整(zheng)不會呈現卡pin現象,并且運(yun)用壽命(ming)能到達(da)30萬次以上;
5.測試母座時,定(ding)制的(de)斜口(kou)性彈(dan)片(pian)的(de)頭部插入BTB連(lian)(lian)接器內彈(dan)片(pian)啟齒之間,對BTB連(lian)(lian)接器彈(dan)片(pian)產生一(yi)定(ding)的(de)張(zhang)開量,微(wei)針模組彈(dan)片(pian)接觸面與BTB連(lian)(lian)接器彈(dan)片(pian)兩面不斷堅持(chi)接觸狀(zhuang)態(tai),微(wei)針模組彈(dan)片(pian)頭型自(zi)清(qing)潔設計免維護(hu)保障長(chang)期穩定(ding)性;
6.一(yi)體式設計(ji),準確度(du)高(gao),完整不會呈(cheng)現扎歪的問題;
7.大(da)電流BTB彈片微針模組的測試良(liang)率能到(dao)達99.5%;
8.能更(geng)好的(de)應(ying)對pitch≤0.2mm的(de)范疇;
9.運(yun)用彈片微針模組(blade block)在(zai)同一模組,測試前(qian)和(he)測試20次后,連接器上根(gen)本看不到(dao)任何扎痕;
針對(dui)市(shi)場上(shang),企(qi)業運用pogopin一系列的問題,我們自主創新的大電(dian)流(liu)BTB彈片微針模(mo)組(blade block)的處理計劃能(neng)更(geng)好的應(ying)對(dui),協助企(qi)業儉省本錢。
相(xiang)較于目前市場上(shang)的(de)痛點(dian)(dian),大(da)電流(liu)彈片微(wei)針模組(blade block),一體成型的(de)彈片根卡pin、銜接(jie)穩(wen)定性(xing)差、斷針,接(jie)觸(chu)外形可(ke)定制化(hua)防止了(le)產生(sheng)接(jie)觸(chu)不穩(wen)定、阻抗(kang)分歧性(xing)低,能(neng)(neng)應對(dui)pitch≤0.2mm、測試效(xiao)率高(gao)、穩(wen)定性(xing)高(gao)、能(neng)(neng)兼(jian)容小pitch BTB公母(mu)座穩(wen)定且牢(lao)靠、能(neng)(neng)接(jie)受的(de)頂點(dian)(dian)為50A大(da)電流(liu)、運用壽命更長、快速出樣(yang)、訂貨周期短等(deng)優點(dian)(dian)。
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