關(guan)于(yu)BTB/FPC母座(zuo)connector測試(shi)，目前大部份的(de)企業、廠(chang)(chang)商采用(yong)輕觸(chu)(chu)計劃(hua)降臨時應對；運(yun)用(yong)pogo pin的(de)廠(chang)(chang)商測試(shi)母座(zuo)時，只能接(jie)(jie)觸(chu)(chu)連接(jie)(jie)器端子(zi)頂點位置，接(jie)(jie)觸(chu)(chu)區域面積小，接(jie)(jie)觸(chu)(chu)方(fang)式為(wei)點對點，相對彈片接(jie)(jie)觸(chu)(chu)面小，易(yi)(yi)磨損及(ji)運(yun)用(yong)次數到一定的(de)壽命(ming)后易(yi)(yi)接(jie)(jie)觸(chu)(chu)不良，招致誤(wu)測等現(xian)象。

　　pogopin是由(you)彈(dan)簧(huang)、針管、針軸三個根本部(bu)件預壓之后構(gou)成的彈(dan)簧(huang)式探針；它自身(shen)由(you)幾(ji)個部(bu)件制造、裝配(pei)、涂(tu)裝而成，工藝程序(xu)復雜，但(dan)運用壽(shou)命仍然不高；由(you)于pogopin自身(shen)存在的一(yi)些(xie)(xie)問題，在實踐操作(zuo)針對(dui)BTB母座(zuo)connector測試時，我(wo)們理(li)解(jie)到一(yi)些(xie)(xie)廠商的實踐狀況：

　　1.測試不穩(wen)定，pogopin自身是(shi)多(duo)配件(jian)構造，接觸點多(duo)，易(yi)產生(sheng)接觸不穩(wen)定、阻(zu)抗(kang)分歧性低等(deng)問題；

　　2.測試(shi)時探針經常性(xing)扎歪，然(ran)后需(xu)求人(ren)員重新進行探針調整，糜費(fei)了大量的時間(jian)和(he)人(ren)工(gong)本錢(qian)；

　　3.卡PIN：同樣由(you)于由(you)多構(gou)造組(zu)合而成，這(zhe)個在(zai)pogopin身上是防止不了的問題；

　　4.極易斷(duan)(duan)針：隨著pitch的減(jian)少，pogo的針徑也越來越小，使(shi)得探(tan)針的斷(duan)(duan)針風險逐步增加；

　　5.運(yun)用壽(shou)命很短：探(tan)針的運(yun)用壽(shou)命均在30000次(ci)以下，并容易磨損，運(yun)用次(ci)數到(dao)一定的壽(shou)命后(hou)易招致(zhi)接觸不(bu)良、誤測等現(xian)象；

　　以上狀(zhuang)況相對呈現率較高，針對以上的狀(zhuang)況，自然導(dao)致企業本錢(qian)的增加，測試穩定性差，良品率低(di)等(deng)問(wen)題(ti)。

　　針對以上運用pogo測試BTB母座connector，下面簡單引見幾個方面：

　　1.彈片(pian)微針模組有一(yi)體成(cheng)型，后期加(jia)硬(ying)鍍金處(chu)置，接觸(chu)(chu)外形(xing)（可定制化(hua)）很容易依照(zhao)客戶請求制造(zao)；彈片(pian)為一(yi)體化(hua)構造(zao)，減少(shao)了接觸(chu)(chu)點，防止產生接觸(chu)(chu)不(bu)穩定、阻抗分歧性低等(deng)問題；

　　2.在測(ce)(ce)試母座時，彈片(pian)頭部插入連接(jie)(jie)器內(nei)端子，使其產生一定(ding)的張(zhang)開量，這樣能夠保障(zhang)彈片(pian)接(jie)(jie)觸(chu)(chu)面(mian)(mian)與(yu)BTB連接(jie)(jie)器端子兩面(mian)(mian)不斷堅(jian)持接(jie)(jie)觸(chu)(chu)狀態；測(ce)(ce)試公座時，鋸齒型彈片(pian)大面(mian)(mian)積充沛和連接(jie)(jie)器接(jie)(jie)觸(chu)(chu)點接(jie)(jie)觸(chu)(chu)，保障(zhang)測(ce)(ce)試穩(wen)定(ding)；

　　3.電傳(chuan)播導于同一資(zi)料(liao)體(ti)內(nei)，電阻恒定，簡直沒有電流衰減，具有更好的銜接功用，額(e)定電流為3A；

　　4.由于一(yi)體成型，完整(zheng)不(bu)會呈現卡(ka)pin現象，并且運(yun)用壽命能到(dao)達30萬次以上；

　　5.測試母座時，定制的斜(xie)口性彈(dan)(dan)片(pian)的頭(tou)部插入BTB連(lian)接(jie)(jie)器內彈(dan)(dan)片(pian)啟齒(chi)之間(jian)，對BTB連(lian)接(jie)(jie)器彈(dan)(dan)片(pian)產生一(yi)定的張開量(liang)，微(wei)針模組(zu)彈(dan)(dan)片(pian)接(jie)(jie)觸面與(yu)BTB連(lian)接(jie)(jie)器彈(dan)(dan)片(pian)兩(liang)面不斷堅持接(jie)(jie)觸狀態，微(wei)針模組(zu)彈(dan)(dan)片(pian)頭(tou)型自(zi)清(qing)潔設計(ji)免維護保障長(chang)期穩定性；

　　6.一(yi)體式設計，準確度(du)高(gao)，完整不(bu)會呈現扎歪的問(wen)題；

　　7.大電流(liu)BTB彈片(pian)微(wei)針模組的測試良率能到達99.5%；

　　8.能更好的(de)應(ying)對pitch≤0.2mm的(de)范疇；

　　9.運用彈片微針模組（blade block）在(zai)同一模組，測(ce)試前(qian)和(he)測(ce)試20次后，連接器上根本看不到任何(he)扎痕；

　　針對市場上，企業(ye)運用pogopin一系列的問題，我們自(zi)主創新(xin)的大(da)電(dian)流(liu)BTB彈片(pian)微針模組(zu)（blade block）的處理計劃(hua)能更好的應對，協助(zhu)企業(ye)儉省(sheng)本錢(qian)。

　　相較于目前市場上(shang)的痛點(dian)，大電(dian)流彈片(pian)微針模組（blade block），一(yi)體(ti)成型的彈片(pian)根(gen)卡pin、銜接(jie)(jie)穩(wen)定(ding)(ding)性(xing)差(cha)、斷針，接(jie)(jie)觸外形可定(ding)(ding)制化防止了產生接(jie)(jie)觸不穩(wen)定(ding)(ding)、阻抗分歧性(xing)低，能應對pitch≤0.2mm、測試效率高(gao)、穩(wen)定(ding)(ding)性(xing)高(gao)、能兼(jian)容小pitch BTB公母座穩(wen)定(ding)(ding)且牢靠、能接(jie)(jie)受的頂點(dian)為50A大電(dian)流、運用壽(shou)命更長、快速出樣、訂貨周期短等優點(dian)。