21世紀(ji)發展(zhan)的理想(xiang)電(dian)(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池可廣泛(fan)應用(yong)于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)(dian)(dian)腦(nao)、筆記本(ben)電(dian)(dian)(dian)(dian)腦(nao)、可穿(chuan)戴設備等領域，鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池具有(you)能量密度(du)高、電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)高、壽命(ming)長、無記憶效應等優點(dian)，3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池是容易因(yin)短路、過(guo)充等原因(yin)燒毀或(huo)爆炸，所以很(hen)危險(xian)3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池測(ce)試是鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池制造和(he)(he)組裝的重要(yao)環節，是實現(xian)鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池性能和(he)(he)安(an)全靠譜使用(yong)的有(you)力保障。3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池測(ce)試項目主要(yao)包(bao)括(kuo)一致性、功能性、安(an)全性、可靠性和(he)(he)工(gong)況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓三級:pogopin探針模塊。通過比較(jiao)兩(liang)者(zhe)的優缺點，我們可(ke)以更直(zhi)觀地區分哪一個更符合要(yao)求3C鋰電池測試要(yao)求。

　　從目(mu)前的市場趨勢(shi)來(lai)看(kan)，3C電(dian)子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小(xiao)，pogopin探(tan)針模(mo)組在(zai)小(xiao)pitch該領域適(shi)應性差(cha)，只能處(chu)理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽(shou)命和穩定性差(cha)。3C鋰電(dian)池測試(shi)對電(dian)流(liu)的需求(qiu)很(hen)大，pogopin探(tan)針模(mo)塊能承載(zai)的額定電(dian)流(liu)僅(jin)為1A，在(zai)傳輸(shu)過程中(zhong)，電(dian)流(liu)會在(zai)不同位衰減，導(dao)致(zhi)連接不穩定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)針模組無(wu)論(lun)是面對(dui)(dui)小(xiao)間距(ju)還是大(da)電(dian)(dian)流(liu)，都有很(hen)(hen)好(hao)的(de)應對(dui)(dui)方法。在(zai)小(xiao)pitch在(zai)該領域，大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)針模塊是可(ke)取(qu)的(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能(neng)穩(wen)定(ding)可(ke)靠。面對(dui)(dui)大(da)電(dian)(dian)流(liu)測試要求，大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)針模塊可(ke)通過的(de)額定(ding)電(dian)(dian)流(liu)大(da)到(dao)50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有電(dian)(dian)流(liu)衰減，具有良好(hao)的(de)連(lian)接功能(neng)，可(ke)以很(hen)(hen)大(da)限度(du)地保障3C鋰(li)電(dian)(dian)池測試的(de)穩(wen)定(ding)性。

　　pogopin探針模組

　　就使用壽(shou)(shou)命而言，pogopin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)的試驗(yan)壽(shou)(shou)命在于5w大(da)(da)電流彈(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)的試驗(yan)壽(shou)(shou)命約為20w以上，比較pogopin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多(duo)了四倍!況且pogo pin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)為多(duo)組(zu)件結構(gou)，生(sheng)產(chan)工(gong)藝復雜，生(sheng)產(chan)難度高，交貨期長(chang);大(da)(da)電流彈(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)是一種集(ji)成彈(dan)片(pian)結構(gou)，輕、扁平，可根據客(ke)戶要求定制，生(sheng)產(chan)難度低，交貨期短。相比之下，通(tong)大(da)(da)電流彈(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)的成本性能(neng)并不太高!

　　對(dui)比母(mu)座測試良(liang)率，pogopin針(zhen)對(dui)探(tan)針(zhen)模塊BTB連接器母(mu)座幾乎無(wu)法實現，穩定(ding)性極(ji)差。大部分采用觸(chu)摸方(fang)案(an)對(dui)應，母(mu)座測試良(liang)率不到(dao)80%;母(mu)座上有一(yi)(yi)種特別的(de)通大電(dian)流彈(dan)片(pian)微針(zhen)模組(zu)對(dui)應方(fang)法。將(jiang)斜口(kou)型(也稱(cheng)尖頭型)彈(dan)片(pian)頭插入連接器內端(duan)子，以保(bao)持(chi)一(yi)(yi)定(ding)的(de)開(kai)度，從而保(bao)障彈(dan)片(pian)的(de)接觸(chu)面(mian)和接觸(chu)面(mian)BTB連接器端(duan)子兩側保(bao)持(chi)接觸(chu)狀態(tai)，使(shi)測試穩定(ding)，母(mu)座測試良(liang)率達到(dao)99.8%。

　　大電流彈(dan)片微針模組測(ce)試效率高，穩定性(xing)好(hao)。與同一產(chan)品(pin)測(ce)試前后相比，連接器基本上看不到刺(ci)痕，不會(hui)對(dui)產(chan)品(pin)造成任(ren)何(he)損壞pogo pin電池測(ce)試模塊更值(zhi)得(de)選(xuan)擇和信賴。