21世紀發展(zhan)的理想(xiang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)。鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)可(ke)(ke)廣(guang)泛應用于 3C 也被稱為(wei)手機(ji)、平板(ban)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)腦、筆(bi)記本電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)腦、可(ke)(ke)穿戴設備等領域，鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)具有(you)能(neng)量密(mi)度高、電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓高、壽(shou)命長(chang)、無記憶效應等優點，3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)是(shi)容易因短(duan)路(lu)、過充等原因燒毀或爆炸(zha)，所以很危險(xian)3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)測試是(shi)鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)制造和組裝的重要(yao)(yao)環節，是(shi)實現鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)性(xing)能(neng)和安全靠譜使用的有(you)力(li)保(bao)障(zhang)。3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)測試項目(mu)主要(yao)(yao)包括一致性(xing)、功能(neng)性(xing)、安全性(xing)、可(ke)(ke)靠性(xing)和工(gong)況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓三級:pogopin探針模塊。通過比較兩者的優缺點，我(wo)們(men)可以更(geng)直(zhi)觀地區分哪一個更(geng)符合要(yao)求3C鋰(li)電池(chi)測(ce)試要(yao)求。

　　從目前的市場(chang)趨勢來看，3C電(dian)(dian)子(zi)產品內部空(kong)間(jian)集成度(du)高，pitch不斷縮(suo)小，pogopin探針模(mo)(mo)組在(zai)小pitch該領域適(shi)應性(xing)差，只(zhi)能(neng)處理0.3mm-0.4mm之間(jian)的pitch壽命和穩(wen)定(ding)(ding)性(xing)差。3C鋰(li)電(dian)(dian)池測試對電(dian)(dian)流的需求很大，pogopin探針模(mo)(mo)塊(kuai)能(neng)承載的額(e)定(ding)(ding)電(dian)(dian)流僅為1A，在(zai)傳(chuan)輸過程中，電(dian)(dian)流會在(zai)不同位衰減，導致(zhi)連接不穩(wen)定(ding)(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大(da)(da)電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)(dan)片微針模(mo)組無(wu)論是(shi)面對(dui)小間距還是(shi)大(da)(da)電(dian)流(liu)(liu)，都有很(hen)好(hao)的(de)應對(dui)方法。在(zai)小pitch在(zai)該(gai)領域，大(da)(da)電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)(dan)片微針模(mo)塊是(shi)可取的(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能(neng)穩定可靠。面對(dui)大(da)(da)電(dian)流(liu)(liu)測試(shi)要求，大(da)(da)電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)(dan)片微針模(mo)塊可通(tong)過的(de)額定電(dian)流(liu)(liu)大(da)(da)到50A，在(zai)1-50A電(dian)阻恒(heng)定，幾(ji)乎沒有電(dian)流(liu)(liu)衰減，具有良好(hao)的(de)連接(jie)功(gong)能(neng)，可以很(hen)大(da)(da)限度地保障(zhang)3C鋰電(dian)池(chi)測試(shi)的(de)穩定性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使用壽命而言，pogopin探(tan)(tan)針模(mo)(mo)塊(kuai)的試驗壽命在(zai)于5w大電流彈(dan)(dan)片微(wei)針模(mo)(mo)組的試驗壽命約為20w以上，比較pogopin探(tan)(tan)針模(mo)(mo)塊(kuai)整整多了四倍!況且(qie)pogo pin探(tan)(tan)針模(mo)(mo)塊(kuai)為多組件(jian)結(jie)構，生(sheng)(sheng)產工藝復雜(za)，生(sheng)(sheng)產難度高，交(jiao)貨期長;大電流彈(dan)(dan)片微(wei)針模(mo)(mo)組是一種集成彈(dan)(dan)片結(jie)構，輕(qing)、扁平，可(ke)根(gen)據客戶要(yao)求定制(zhi)，生(sheng)(sheng)產難度低，交(jiao)貨期短。相比之(zhi)下，通大電流彈(dan)(dan)片微(wei)針模(mo)(mo)組的成本(ben)性能并(bing)不(bu)太(tai)高!

　　對(dui)(dui)比(bi)母(mu)座測試良率(lv)(lv)，pogopin針對(dui)(dui)探(tan)針模塊(kuai)BTB連接(jie)(jie)器(qi)母(mu)座幾乎無法(fa)實現，穩(wen)定性極差。大部分采(cai)用觸(chu)(chu)摸(mo)方(fang)案對(dui)(dui)應(ying)，母(mu)座測試良率(lv)(lv)不到80%;母(mu)座上有一種特別的通大電流彈(dan)(dan)片微針模組對(dui)(dui)應(ying)方(fang)法(fa)。將斜口型(也稱尖頭型)彈(dan)(dan)片頭插入連接(jie)(jie)器(qi)內端(duan)(duan)子(zi)，以(yi)保持一定的開度，從(cong)而保障彈(dan)(dan)片的接(jie)(jie)觸(chu)(chu)面(mian)和接(jie)(jie)觸(chu)(chu)面(mian)BTB連接(jie)(jie)器(qi)端(duan)(duan)子(zi)兩側保持接(jie)(jie)觸(chu)(chu)狀(zhuang)態，使(shi)測試穩(wen)定，母(mu)座測試良率(lv)(lv)達到99.8%。

　　大電流(liu)彈片微針模(mo)(mo)組測試(shi)效率高(gao)，穩定性好。與(yu)同(tong)一產(chan)(chan)品測試(shi)前后相比，連接(jie)器(qi)基本上(shang)看不到刺(ci)痕，不會對產(chan)(chan)品造成任(ren)何損壞pogo pin電池測試(shi)模(mo)(mo)塊(kuai)更值得選擇和信(xin)賴。